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X射線衍射法無法有效檢測單晶體殘余應力，主要受限于其基本原理和單晶體結構特性：

多晶體衍射原理的限制‌
X射線衍射法基于布拉格方程（2dsinθ=nλ），依賴多晶體材料中大量隨機取向的晶粒產生衍射峰。通過測量不同ψ角（衍射矢量與試樣法線的夾角）的晶面間距變化，計算宏觀殘余應力。單晶體作為單一晶粒，缺乏多晶體的統(tǒng)計效應，無法通過ψ角旋轉獲取足夠的衍射信息。

單晶體結構導致衍射信息缺失‌

單一取向問題‌：單晶體所有原子排列高度有序，僅特定晶面能在固定角度滿足衍射條件。旋轉ψ角時，多數(shù)位置無衍射信號，無法建立完整的d−sin2ψ 關系曲線（應力計算的核心依據(jù)）。
無晶粒統(tǒng)計效應‌：多晶體中微小晶粒的隨機取向確保了任意ψ角均有部分晶粒滿足衍射。單晶體不具備此特性，導致衍射數(shù)據(jù)不完備。

織構干擾的極端化影響‌
多晶材料若存在強織構（各ψ角衍射強度差異>3倍），已可能影響測試精度。單晶體作為織構的極端形式（完全單一取向），其衍射強度僅存在于特定角度，完全無法滿足各向同性假設。

晶粒尺寸與相干散射要求‌
標準X射線殘余應力檢測要求晶粒尺寸為10–100 µm，以確保衍射信號的穩(wěn)定性和重現(xiàn)性。單晶體尺寸通常遠超此范圍，且缺乏多晶體的相干散射多樣性，無法滿足檢測所需的光斑一致性條件（如移動光斑后衍射峰形需穩(wěn)定）。

補充說明：X射線法適用的應力類型

X射線衍射法僅對‌第I類宏觀殘余應力‌敏感（引起晶面間距均勻變化，導致衍射峰位移）。單晶體中存在的第II/III類微觀應力（如晶格缺陷導致的局部畸變）雖會引起峰寬化或強度變化，但此類應力無法通過標準宏觀應力檢測方法量化，需依賴其他技術進行分析。